電子元器件高頻振動試驗臺在實驗室借助振動試驗系統(tǒng)可以模擬再現(xiàn)正弦、隨機、共振駐留、典型沖擊和道路仿真等模式。對于產(chǎn)品的質量保證、新品研發(fā)都是*的。
艾思荔電子元器件高頻振動試驗臺 壹叁伍 叁捌肆陸 玖零柒陸 控制器的選用搭配提供簡易操控,提供水平及垂直擴展平臺不同運用,氣囊隔離減震裝置使振動機無需地基,*再現(xiàn)振動波形及減小振動傳輸。
高頻振動試驗臺技術參數(shù):
1、溫度范圍:(0、-20、-40、-70)~+150℃
2、濕度范圍:30~98%RH
3、溫度均勻度≤±2.0℃
4、溫度波動度≤±0.5℃
5、濕度波動:+2-3%RH
6、降溫速率:0.7℃~1℃(空載狀態(tài)下)
7、升溫速率:1~3℃(空載狀態(tài)下)
8、振動類型:電磁式振動
9、振動頻率:2~(100 HZ、200HZ、400HZ、500HZ)
10、振幅:0-5mm
11、振動加速度:0-20Gg
高頻振動試驗臺特色:
劍氣之懸掛系統(tǒng)與直線運動導向,承載能力強,導向性能好穩(wěn)定度高
中心負載氣囊靜剛度大,動剛度小,承載能力強振幅增大瞬時動態(tài)表現(xiàn)
高效率DCLASS功率轉換,3-Sigma峰值電流,提供優(yōu)化的功率消耗和小的諧波失真
快速自檢診斷及連鎖保護,安全可靠度高
高頻振動試驗臺執(zhí)行標準:
GB10586-2006濕熱試箱技術條件
GB10589-2006低溫試驗箱技術條件
GB10592-2006高低溫試驗箱技術條件
GB11158-2006高溫試驗箱技術條件
GB/T2423.1-2001試驗A:低溫試驗方法
GB/T2423.2-2001試驗B:高溫試驗方法
GB/T2423.3-1993試驗Ca: 恒定濕熱試驗
GB/T5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設備
GB/T5170.5-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗設備
GB/T2423.49-1997 、GB/T 2423.48-1997 、GB/T2423.10-1995
電子元器件高頻振動試驗臺概要:
ES系列振動試驗機在實驗室條件下模擬振動環(huán)境,測試各種振動試驗應用領域中的沖擊強度和可靠性。在實驗室借助振動試驗系統(tǒng)可以模擬再現(xiàn)正弦、隨機、共振駐留、典型沖擊和道路仿真等模式。對于產(chǎn)品的質量保證、新品研發(fā)都是*的。