三綜合試驗箱標(biāo)準(zhǔn)尺寸:

THV-408 工作室尺寸D×W×Hcm： 60×85×80

THV-800 工作室尺寸D×W×Hcm： 100×100×80

THV-1000 工作室尺寸D×W×Hcm： 100×100×100

三綜合試驗箱的用途：

    三綜合試驗箱主要是針對于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在溫度急劇變化的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時的適應(yīng)性試驗。溫度沖擊試驗箱主要用于對產(chǎn)品按照***標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在高溫與低溫瞬間變化條件下，對產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗用。本公司專業(yè)生產(chǎn)低溫試驗室、高低溫（交變）試驗室、高低溫（交變）濕熱試驗室等等。可根據(jù)用戶要求，定制各種型號規(guī)格和大小的各類步入式試驗室。

三綜合試驗箱的結(jié)構(gòu)特點(diǎn)：

本試驗室主要由庫體、制冷系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、加濕系統(tǒng)、空氣循環(huán)系統(tǒng)以及控制系統(tǒng)組成。箱體的外殼為采用冷軋鋼板靜電噴塑，內(nèi)膽采用不銹鋼板，箱門中間設(shè)大面積觀察窗，試驗室內(nèi)并配有觀察燈，使用戶可以清晰地看到試樣的試驗情況。外型整體美觀大方。保溫層為硬質(zhì)聚氨脂發(fā)泡，具有強(qiáng)度高，保溫性有好等特點(diǎn)。本設(shè)備采用標(biāo)準(zhǔn)化多功能設(shè)計、有程序運(yùn)行和恒定運(yùn)行功能。主控制儀采用韓國進(jìn)口觸摸屏溫濕度控制儀，液晶LCD顯示，具有通訊接口，大容量程序，操作簡單，用戶可自定義溫、濕度控制曲線進(jìn)行溫濕度試驗。升溫、降溫、加濕、去濕獨(dú)立，*的BTHC平衡調(diào)溫調(diào)濕方式。具有定時功能。制冷系統(tǒng)采用全封閉進(jìn)口壓縮機(jī)組，機(jī)械式單級制冷或復(fù)迭低溫回路系統(tǒng)，全自動控制與安全保護(hù)協(xié)調(diào)系統(tǒng)。加熱采用不銹鋼翅片加熱管，加濕采用不銹鋼加濕管，加濕方式為蒸汽加濕，水位自動控制。

三綜合試驗箱的服務(wù)：

1．提供設(shè)備的電氣原理圖、易耗件明細(xì)表、操作維護(hù)手冊等技術(shù)資料，并提供主要外購配套件的技術(shù)資料。

2．培訓(xùn)設(shè)備操作、維護(hù)人員，使其*掌握設(shè)備的操作技能和一般性的維修、保養(yǎng)技能。

3．自設(shè)備通過驗收之日起的1年內(nèi)，向買方提供免費(fèi)的售后服務(wù)

4. （相關(guān)軟件及技術(shù)升級長期免費(fèi)支持）包修期滿后提供有償服務(wù)。

三綜合試驗箱的主要技術(shù)指標(biāo)：

1 、溫度范圍： -40℃、-20℃～+100℃

2 、濕度范圍：30%～98%RH

3 、溫度波動度：±0.5℃

4 、溫度偏差：≤2℃

5 、濕度偏差： +2-3 %RH 

6 、升降溫速率：0.5～1.2℃/min

三綜合試驗箱的安全保護(hù)裝置：

1 、電源超載、控制回路過載、短路保護(hù)

2 、接地保護(hù)、電機(jī)過載保護(hù)

3 、超溫保護(hù)

4 、壓縮過壓、過載保護(hù)

5 、為保護(hù)設(shè)備,所有報警均會自動切斷電源，并發(fā)出聲訊提示。

三綜合試驗箱的使用現(xiàn)場條件：

1．溫度：15℃~35℃ 

2．相對濕度：不大于85%RH

3．周圍無強(qiáng)烈振動、無強(qiáng)烈電磁場影響

4．周圍無高濃度粉塵及腐蝕性物質(zhì)

5．無陽光直接照射或其它熱源直接輻射

6．周圍無強(qiáng)烈氣流，當(dāng)周圍空氣需要強(qiáng)制流時，氣流不應(yīng)直接吹到箱體上。

7．試驗室應(yīng)放置平穩(wěn)，保持水平。

8．試驗室的四周應(yīng)留有一定的距離，方便維修操作。

9．安裝場地通風(fēng)良好

10．良好接地

三綜合試驗箱該設(shè)備是按照下列標(biāo)準(zhǔn)之一或其結(jié)合為依據(jù)而制造：

GB 10589-89 低溫試驗箱技術(shù)條件

GB 10592-89 高低溫試驗箱技術(shù)條件

GB 11158-89 高溫試驗箱技術(shù)條件

GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設(shè)備

GB/T5170.5-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 濕熱試驗設(shè)備

GB2423.22-87 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗N:溫度變化試驗方法

GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法

GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法

GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 高溫低溫試驗導(dǎo)

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